ZEISS DotScan是測量自由曲面和細微結(jié)構(gòu)的不二選擇。ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭,特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面,因為對于這類表面,探針或相機傳感器已超過其能力所及。使用ZEISS DotScan時,具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無須注入造影劑,即可進行掃描。因此,使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
使用ZEISS DotScan時,具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無須注入造影劑,即可進行掃描。因此,使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
用途多樣靈活
ZEISS DotScan共有三種探頭尺寸,適用于三種不同的測量范圍: 10、 3和1 mm。蔡司測頭可在一次CNC運行期間全自動更換,以適用于不同的表面,或改換其他光學(xué)探頭。
關(guān)節(jié)軸每次可移動2.5度,可將ZEISS DotScan調(diào)整到垂直于待測量部件。且由于ZEISS DotScan 1 mm的測量角度是+/- 30度,因此更大曲率的部件也能測量。再加上探針的操作模式,使得各種材料都能毫無問題地從各種角度進行測量。配合使用轉(zhuǎn)臺,甚至連4軸的測量工作也難不倒ZEISS DotScan。
邁向主動式掃描技術(shù)
在所有需要大型測針配置和高精度表現(xiàn)的測量應(yīng)用中,VAST主動式探頭系列扮演了至關(guān)重要的角色。VAST XT gold奠定了主動式掃描技術(shù)的基礎(chǔ)。
額外的測量系統(tǒng)
VAST XT gold額外配備了一套測量系統(tǒng)。測量力可根據(jù)測量任務(wù)進行配置,其也可用于一系列的修正程序。
除了主動式掃描,此探頭也支持單點測量:例如,VAST XT Gold讓您能靈活使用復(fù)雜的測針配置并提供了自動定心功能。
一個探頭,多項應(yīng)用
憑借其高速掃描的能力,VAST XT gold可勝任任何任務(wù):形狀和位置的測量、曲線和自由曲面的測量,以及逆向工程。應(yīng)用范圍涵蓋塑料加工零件、泡沫塑料、制動零件、曲柄軸、發(fā)動機和渦輪葉片。
三次元測量儀 接觸式掃描探頭ZEISS RST-P蔡司三次元探頭
三坐標(biāo)測量機 三坐標(biāo)探頭座ZEISS RDS蔡司三坐標(biāo)關(guān)節(jié)式探頭座
三坐標(biāo)測量機 接觸式掃描探頭ZEISS VAST XXT 蔡司三坐標(biāo)探頭